반도체와 디스플레이 공정진단 및 검사시스템 전문기업 ㈜쎄미시스코(136510, 대표이사 이순종)가 2012년 특허기술상에서 충무공상 수상기업으로 선정되었다.
쎄미시스코가 수상하게 된 기술은 '기판의 품질 검사장치 및 그 검사방법'이라는 특허기술이다. 이는 유리기판의 평탄도 및 너울 발생 여부를 검사하기 위한 솔루션으로 투과광 투과 시 유리기판 굴곡에 따라 투과광 패턴에 변화가 있음에 착안한 기술이다.
기존 LCD 제조사 등 유리기판을 활용하는 제조업체에서는 기판에 생길 수 있는 결점 중 하나인 굴곡에 대해서는 인지하고 있었으나, 이를 정량화하거나 객관적인 판단을 위한 수치로 표현하기 위한 방법을 확보하지 못한 상태였다. 쎄미시스코가 해당 기술을 개발함으로써 품질 평가의 새로운 기준이 되었으며 현재는 OWI(Optical Waviness Inspector)라는 유리기판 품질 평가의 표준화를 이루었다.
이 기술은 쎄미시스코가 세계 최초로 개발한 기술로 2009년 제품화에 성공해 현재 'EGiS-Wavi'라는 쎄미시스코의 핵심 장비로 자리잡았다. 지난해까지 약 22억 원 규모의 매출 성과를 기록했으며 올해에는 기존 매출액의 약 2배에 달하는 40억 원 수준의 매출이 예상되고 있다.
이순종 대표는 "EGiS-Wavi 기술을 발판 삼아 플렉시블 디스플레이 검사장비 분야에서도 장비 및 기술의 선점, 국산화를 통해 기술 선도 기업으로서의 지위를 고수하기 위한 연구, 개발에 매진할 것"이라고 말했다.
cynical73@fnnews.com 김병덕 기자
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